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IR孔透過(guò)率測(cè)試儀是一套全波長(zhǎng)的0度角透過(guò)率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。

透過(guò)率測(cè)試 VS-Micro透過(guò)率測(cè)試儀簡(jiǎn)介： 基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確定位，用小尺寸光斑（0.1mm）測(cè)試樣品微小區(qū)域的相/透射率。對(duì)比傳統(tǒng)目鏡對(duì)焦，其采用數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦更準(zhǔn)確，測(cè)試速度更快?？烧{(diào)光斑孔徑大小達(dá)到了以前沒(méi)有的小尺寸，更好的適應(yīng)了市場(chǎng)上越來(lái)越精細(xì)的樣品測(cè)試。專門用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過(guò)率檢測(cè)。