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Product Center當前位置:首頁產(chǎn)品中心光學儀器及設備透過率測試儀器OVS-Micro透過率測試儀
透過率測試儀
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相關文章品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應用領域 | 化工,電子,航天,汽車,綜合 |
透過率測試儀優(yōu)點:
儀器精密小巧,攜帶方便。
測試速度極快,一秒出結果,實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。
極小樣品的透過率檢測。
優(yōu)異的波長重復性達0.1納米。
高精度的光度測定。
小化雜散光。
透過率測試儀軟件特點:
智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動調整顯示坐標范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,很大程度地方便了譜圖的管理和分析。
自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。
譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學元件數(shù)據(jù)庫,可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標準數(shù)據(jù)對比分析結果,用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數(shù)據(jù)導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù), x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。
數(shù)據(jù)報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。
技術參數(shù):
型號 | OVS-Micro(I型) | OVS-Micro(II型) |
測量系統(tǒng) | 單光束 | 單光束 |
探測器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢出限 | 0.1% | 0.01% |
相對檢測誤cha | ﹤0.6%(410-900nm) | ﹤0.4%(410-100nm) |
檢測范圍 | 380-1000nm | 360-1100nm |
波長重復率 | 1nm | 1nm |
信噪比(全信號) | 250:1 | 450:1 |
樣品測試平臺 | X,Y軸可調 | |
光源 | 鹵素鎢燈 | |
孔徑大小 | 0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可選 | |
樣品大小 | ≥ 0.5mm | |
測量時間 | ﹤1s | |
對焦方式 | 數(shù)字相機視頻對焦 | |
物鏡 | 5X | |
電源供應器 | 5V/6W,可調節(jié)亮度,燈泡壽命5000小時 | |
操作系統(tǒng)/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
體積/重量 | 30cm*29cm*35cm/8.5kg |